膜厚分析儀根據測量原理可以分為這幾種類型

　　1、磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高

 

　　2、渦流測厚法：適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低

 

　　3、超聲波測厚法：目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，個別有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。

 

　　4、電解測厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。

 

　　膜厚分析儀的性能特點：

　　滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求；

 

　　小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；

 

　　移動平臺可定位測試點，重復定位精度小；

 

　　采用高度定位激光，可自動定位測試高度；

 

　　定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；

 

　　鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；

 

　　高分辨率探頭使分析結果更加；

 

　　良好的射線屏蔽作用；

 

　　測試口高度敏感性傳感器保護。

 

　　膜厚分析儀具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現場。能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。